Process Test Wafer : 無料・フリー素材/写真
Process Test Wafer / NASA Goddard Space Flight Center
| ライセンス | クリエイティブ・コモンズ 表示 2.1 |
|---|---|
| 説明 | Process test wafer for International X-ray Observatory project.Credit: NASA/GSFC/Rebecca Roth |
| 撮影日 | 2010-10-28 14:36:34 |
| 撮影者 | NASA Goddard Space Flight Center , USA |
| タグ | |
| 撮影地 | Goddard, Maryland, United States 地図 |
| カメラ | NIKON D100 , NIKON CORPORATION |
| 露出 | 0.001 sec (1/1250) |
| 開放F値 | f/5.6 |
| 焦点距離 | 70 mm |